JEMIS 039-2002 工業プロセス計測制御機器の電磁波妨害特性許容値および測定

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平成14年4月
(一社)日本電気計測器工業会


 本JEMISは下記の規格およびAmendmentに基づき、工業プロセス計測制御機器の電磁波妨害特性許容値および測定法について規定する。

[準拠した規格]
・CISPR 11 (1997)
「工業用、科学用及び医療用高周波機器(ISM)の電磁波妨害特性許容値および測定法」
・CISPR 11 Amendment 1 (1999)
上記の規格に準拠しているため、本JEMISにしたがって試験を実施すれば、CEマーキング貼付の条件であるEMC指令の必要要件が満足されることになる。



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