計測展2015 TOKYO 委員会セミナー 【IEC/TC65 国内】

2015年12月4日

IIoTを支える国際標準の最新動向

主 催:IEC/TC65 国内委員会
時 間:14:45~16:45
会 場:東京ビッグサイト 西ホール2F セミナー会場J(西1商談室6)

テーマ IIoTを支える国際標準の最新動向
概 要 来るIIoTの波を前に将来の工場のあり方と国際標準化との関係を説明。
なぜ国際標準化が必要か、IIoTを支えるIEC国際標準化の概要、及びI4.0/Smart ManufacturingとTC65国際標準を詳細説明。
CDD、Digital Factry、ライフサイクル、EDDL/FDT/FDI等
講 師 IEC/TC65国内委員会 委員長(アズビル株式会社) 笹嶋 久 氏
IEC/TC65国内委員会 諮問委員会 幹事(アズビル株式会社) 石隈 徹 氏
他2名(山崎委員、池田委員)

※講演内容等については予告なく変更することがあります。

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