2000年JEMIMA計測プラザ テクニカルセミナー

聴講無料 [当日先着順]

6月14日(水)
B 室( O's 棟南館6階 B7会議室)
10:30

11:30
水質総量規制と全窒素・全リン分析技術
山内 進氏
(株)堀場製作所
分析システム統括部
システム開発部
11:45

12:45
半導体形pH計を使ったランニングコストの削減方法 長谷川 敬二氏 山武産業システム(株)
13:00

14:00
フィールド・コンテンツ on Web 柴田 友厚氏

横河電機(株)
IT開発センター
センター長

14:15

15:15
次世代放送システムに対応したディジタル変復調器シリーズ 中井 誠治氏 松下通信工業(株)
電子計測事業部
計測技術部
設計室長
15:30

16:30
ネットワーク時代のデータ収録機器のご紹介 小松 幸司氏 横河電機(株)
T&MレコーダPMK部
係長
C 室( O's 棟南館6階 B8会議室)
10:30

11:30
IMT 2000測定ソリューション 山田 忠利氏 アンリツ(株)
計測器事業本部
計測器事業部
マーケティング部
プロジェクトチーム
課長補佐
11:45

12:45
地上デジタル放送測定ソリューション 板原 弘氏 アンリツ(株)
計測器事業部
第2開発部
13:00

14:00
ネットワークを活用した次世代 PC計測 Mandip S.
Khorana 氏
日本ナショナルインスツルメンツ(株)
西日本営業統括マネージャー

6月15日(木)
B 室( O's 棟南館6階 B7会議室)
10:30

11:30
横河電機の新世代プラントネット ワーク技術
大島 輝洋氏
横河電機(株)
IAシステム事業部
IAシステムMK部
課長
11:45

12:45
監視制御システムをビルドアップ するための新しいツール
−効率の良いエンジニアリングのために−
山岸 昭男氏 (株)島津製作所
環境計測事業部 技術部
主任
13:00

14:00

ポータブル型VOC分析計とアプリケーション

北野 康史氏

(株)堀場製作所
分析システム統括部
企画開発課

14:15

15:15
逆フィルタ設備診断事例とオンラ イン化 玉乃井 愛仁氏 山武産業システム(株)
課長代理
15:30

16:30
赤外分光計測によるプロセス 分野への適応事例と今後の動向 佐竹 司氏

(株)堀場製作所
分析システム統括部
環境プロセス開発部



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