計測展2008 OSAKA

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セミナー関連プログラム

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会期:2008年11月28日(金)
会議室名:B室1201号室(12階) 定員:30名
14:45-15:30 【T17】
(株)ピーアンドエフ
高機能診断モジュール(ADM)を用いた、FFH1物理層の予知メンテナンスについて

ADMは、FF物理層の様々なパラメータの実測値を継続的に収集し、「ダウンタイムを減少し、稼働率の向上」、「安全、環境保全に結びつく予知診断機能」といった、最近のプラント制御で求められる課題に対し、最適なソリューションを提供できると考える。


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